膜厚儀的基本工作原理與測量模式

林上科技的膜厚儀又叫膜厚測試儀，符合了（GB/T 4957-2003）中的渦流法以及（GB/T 4956-2003）中的磁性法等相關標準。

1、其中渦流測厚的原理，是利用高頻交變電流在線圈中產生的電磁場，當測頭和覆蓋層接觸時，金屬基體上就會產生電渦流。并且會對測頭中的線圈產生了反饋的作用，然后通過測量反饋作用的大小來導出覆蓋層的厚度。

渦流測厚原理的膜厚儀，適用于非磁性金屬基體上（銅、鋁、黃銅等）非導電涂層的測量（如涂料、陽極氧化層等）。如航天航空器表面、車輛等及其它鋁制品表面的油漆，陽極氧化膜等。

2、而磁性測厚的原理，是當測頭和覆蓋層接觸時，測頭和磁性金屬基體構成的一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，會使磁路磁阻發(fā)生變化，根據變化就可以測出涂層的厚度。

磁性測厚原理的膜厚儀，適用于鐵磁性金屬基體上（鋼、鐵等）等非磁性涂層的測量。

林上的膜厚儀LS220結合了渦流測厚和磁性測厚的原理，有鐵基測量（Fe）模式，非鐵基測量（NFe）模式以及自動識別（Fe/NFe）模式，另外，在自動識別模式下，儀器自動識別測量的基材，并且快速自動轉換測量模式。